マルバーン・パナリティカル社の粒子計測装置やX線回折装置を用いた、分析・計測技術の最新情報をお伝えするセミナーです。
「粒子計測」や「X線評価」に関してスライドを用いてお伝えします。
＜＜こんな方におすすめ＞＞
・粉体の評価でお困りの方
・オンライン化による省人化やIOTにご興味のある方
・小型／高性能／最新情報を知りたい方
■タイトル：粒子分析とX線評価における最新の分析技術
■日時：2021年12月17日（金）13:10～15:00
■プログラム：[第一部]13:10～14:00 粒子計測技術、[第二部]14:10～15:00 X線評価技術
■参加費用：無料
■視聴方法：Zoom
多角的な評価をすることにより、皆様の今までのお悩みが少しでも解消できれば幸いです。
また、セミナー後に具体的な商談に進まれたお客様には、サンプル測定を受け付けします。
大学生・研究者・技術者の皆様のご参加をお待ちしています！
